Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM)
Microscopia electronica de baleiaj (SEM) este o metoda prin care se poate vizualiza suprafata unui material prin baleierea unui fascicul de electroni pe aceasta. Metoda este folosita pentru analiza morfologica a micro- sau nanostructurilor.
Incercarea furnizeaza imagini microstructurale ale detaliilor morfologice – analiza calitativa. Probele pentru incercare pot fi materiale solide tridimensionale omogene sau neomogene de forme diferite sau de tipul: filme subtiri, micro- sau nanostructurate, fire, fibre sau pulberi.
Echipamente:
Microscop electronic de baleiaj Gemini 500 Zeiss:
coloana GEMINI – curent pe proba intre 3 pA si 20 nA;
rezolutia la distanta de lucru optima: 0.6 nm la 15 kV,
1.1 nm la 1 kV,
1.2 nm la 0.5 kV;
tensiunea de accelerare a electronilor: 0,02 V – 30 kV;
marire: 20X – 2000.000X in formatul Polaroid
sursa de electroni: emitator Schottky cu effect de camp.
Microscop electronic de baleiaj Zeiss EVO 50 XVP:
rezolutia: <5 nm la 30 kV
tensiunea de accelerare a electronilor: 200 V ÷ 30 kV
