National Institute Of Materials Physics - Romania

Analiza Microstructurala Prin Microscopie Electronica De Baleiaj Sem

LIMSAE

Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM)

Microscopia electronica de baleiaj (SEM) este o metoda prin care se poate vizualiza suprafata unui material prin baleierea unui fascicul de electroni pe aceasta. Metoda este folosita pentru analiza morfologica si determinarea dimensiunilor micro- sau nanostructurilor.

Incercarea furnizeaza imagini microstructurale  si dimensiuni liniare ale detaliilor morfologice.
Probele pentru incercare pot fi materiale solide tridimensionale omogene sau neomogene de forme diferite sau de tipul: filme subtiri, micro- sau nanostructurate, fire, fibre sau pulberi.

Echipamente:

Microscop electronic de baleiaj Gemini 500 Zeiss:
  • coloana GEMINI – curent pe proba intre 3 pA si 20 nA;
  • rezolutia la distanta de lucru optima: 0.6 nm la 15 kV,
    • 1.1 nm la 1 kV,
    • 1.2 nm la 0.5 kV;
  • tensiunea de accelerare a electronilor: 0,02 V – 30 kV;
  • marire: 20X – 2000.000X in formatul Polaroid
  • sursa de electroni: emitator Schottky cu effect de camp.

Microscop electronic de baleiaj Gemini 500 Zeiss
Microscop electronic de baleiaj Zeiss EVO 50 XVP
Microscop electronic de baleiaj Zeiss EVO 50 XVP:
  • rezolutia: <5 nm la 30 kV
  • tensiunea de accelerare a electronilor: 200 V ÷ 30 kV
  • curentul pe proba: 1 pA ÷ 1 µA
  • marire: 20X – 1000.000X in formatul Polaroid
  • sursa de electroni: filament LaB6


Back to top

Copyright © 2021 National Institute of Materials Physics. All Rights Reserved